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塑封芯片分层失效原因

时间:2024-05-22 02:01:18

IC失效分析(塑封分层)

1、受潮塑封材料会从环境中吸收或吸附水气,特别是当塑封器件处于潮湿环境时,会吸收或吸附较多的水气,并且在表面形成一层水膜。受潮是塑封器件的很多失效机理如腐蚀、爆米花效应等的诱因。腐蚀对塑封器件而言,湿气渗入是影响其气密性导致失效的重要原因之一。湿气渗入器件主要有两条途径:

1)由于树脂本身的透湿率与吸水性,水气会直接通过塑封料包封层本体扩散到芯片表面;

2)通过塑封料包封层与金属框架间的间隙,然后再沿着内引线与塑封料的封接界面进入器件芯片表面。

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